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职位描述
该职位还未进行加V认证，请仔细了解后再进行投递！
职责描述：
1.执行前段工艺可靠性测试，如HCI、NBTI、PBTI、GOI、C-V、Charge pumping；
2.研究、开发新的半导体器件可靠性测试方法和标准；
3.设计可靠性测试结构；
4.研究先进制程中的可靠性失效机理；
5.评估工艺异常导致的可靠性风险。
任职要求：
1.有良好的半导体物理或固体物理基础。5年以上工艺可靠性或者工艺开发经验，2年以上先进逻辑可靠性或者工艺开发经验。
2.对集成电路前段可靠性如HCI、NBTI、PBTI、GOI的失效机理和测试方法有深入了解，或者有MOS器件工艺开发、电性测试相关经验。硕士及以上。
注：联系我时，请说是在湖北人才网上看到的。
工作地点
地址：武汉江夏区武汉-江夏区武汉新芯集成电路制造有限公司(高新四路)
求职提示：用人单位发布虚假招聘信息，或以任何名义向求职者收取财物（如体检费、置装费、押金、服装费、培训费、身份证、毕业证等），均涉嫌违法，请求职者务必提高警惕。
职位发布者
HR
武汉新芯集成电路制造有限公司
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电子技术·半导体·集成电路
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1000人以上
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公司性质未知
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武汉市东湖新技术开发区高新四路18号
